Direkte Dock Stil Wafer probing ermöglicht eine höhere Bandbreite erhöht, Pin-Dichte und weitere Geräte parallel zu testen. Direkte Dock Prüfkarten unterstützen auch die wachsende Bewegung der traditionellen letzten Test auf wafer-Sonde die bekannt gute sterben (KGD) zulässt und reduzierte Betriebskosten.
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